ГлавнаяО компанииСервисКонтакты

Рентгеновская пленка FUJIFILM


рентгеновская пленка fujifilm Компания Fujifilm разработала революционную новую технологию создания рентгеновской пленки. Сочетание новейших достижений в области изготовления эмульсии и компьютеризированного производственного процесса гарантирует стабильность и эффективность каждой партии, оптимальное качество изображения, совместимость с химикатами для неразрушающего контроля и актуальными условиями обработки в резервуаре/автоматической системе.
Пленки Fujifilm сочетают в себе уникальные характеристики чувствительности и зернистости и могут использоваться в самых разных областях при стабильно высоком качестве вне зависимости от исследуемого материала и источника излучения.

Высокое качество изображения
Благодаря мелкому зерну пленки FUJIFILM IX сильно упрощают поиск дефектов.

Неизменная эффективность
По соответствию качества разных партий пленки Fujifilm являются одними из лучших в отрасли. Соответственно, характеристики экспозиции при съемке различных деталей не меняются, и эффективность процесса повышается.

Меньшее расхождение в плотности
Эмульсия наносится на пленки Fujifilm настолько равномерным слоем, что расхождение в плотности, которое иногда отмечается при автоматической обработке других пленок, практически отсутствует.
Выпускается восемь типов пленок Fujifilm IX с 5-минутной обработкой в различной упаковке, пригодной для любых задач в области неразрушающего контроля.

Срок годности
Рентгеновской пленки и химических реактивов для проявки составляет
3 года.
сертификат fujifilm

отправить запрос

перейти на сайт fuji

Надежда Курлыкина
менеджер отдела рентгеновского оборудования: консультации, подготовка коммерческих предложений и контрактов.
E-mail: kurlykna@ndt-is.ru

Пленка Относительная чувствительность Класс системы пленки Возможные варианты упаковки
100 кВ прямое 200 кВ со свинцом lr-192 со свинцом Co-60 со свинцом ASTM E1815-96 ISO 11699-1 JIS K7627
IX20 10 9 8 5 Листы: без прослоек
IX25 20 17 15 10 SPEСIAL C1 T1 Листы: без прослоек, Envelopak, Envelopak+Pb
IX50 35 30 30 30 I C3 T2 Листы: с/без прослоек, Envelopak, Envelopak+Pb
Рулон: Envelopak+Pb
IX80 55 55 55 55 I C4 T2 Листы: с/без прослоек, Envelopak, Envelopak+Pb
Рулон: без прослоек, Envelopak, Envelopak+Pb
IX100 100 100 100 100 II C5 T3 Листы: с/без прослоек, Envelopak, Envelopak+Pb
Рулон: без прослоек, Envelopak+Pb
IX150 200 200 170 170 III C6 T4 Листы: с прослойкой, без прослоек
IX29 22 22 22 22 W-A W-A Листы: без прослоек
IX59 45 45 45 45 W-B W-B Листы: без прослоек, Envelopak
Рулон: Envelopak

Пленка Область применения Характеристики
IX20 Микроэлектронные детали Нейтронная радиография Важнейшие прецизионные отливки Исключительно мелкие керамические детали Композитные углепластиковые детали Пленка с одним слоем эмульсии, исключительно мелким зерном и средне-высокой контрастностью, предназначенная для областей применения, где необходимы качественные изображения. Один слой эмульсии сводит параллакс к минимуму и дает исключительно резкий вид с увеличением. IX20 обычно используется вместе с прямым экспонированием или свинцовыми экранами
IX25 Микроэлектронные детали Мелкие керамические детали Отливки: металлы с небольшим или средним атомным числом Области применения, требующие максимальной контрастности Рентгеновское облучение с высоким выходом и сверхвысоким напряжением Специальная пленка ASTM Fujifilm с самым мелким зерном и максимальной резкостью и разрешением. Подходит для исследования новых материалов, например, углепластиков, керамических изделий и микроэлектронных деталей. IX25 обычно используется вместе с прямым экспонированием или свинцовыми экранами IX25 рекомендуется обрабатывать только автоматически
IX50 Электронные детали Углепластиковые композиты Экспозиция с изотопами с высоким значением в кюри Отливки: металлы с небольшим или средним атомным числом Пленка ASTM класса I с исключительно мелким зерном и высокой контрастностью, исключительной резкостью и разрешением. Подходит для исследования любых материалов с низким атомным числом, где необходимо получить очень детальное изображение. Благодаря исключительно мелкому зерну очень подходит для областей с большой энергией, с низкой контрастностью объекта, где изо топы с высоким значением в кюри или мощные рентгеновские установки допускают ее использование. Продемонстрирован широкий диапазон экспозиции в областях с высокой контрастностью объекта. IX50 обычно используется вместе с прямым экспонированием или свинцовыми экранами
IX80 Сварные швы: металлы с небольшим или средним атомным числом Отливки: металлы с небольшим или средним атомным числом Производство и обслуживание самолетов Углепластиковые композиты Пленка ASTM класса I с исключительно мелким зерном и высокой контрастностью подходит для обнаружения мелких дефектов. Она пригодна для исследования материалов с низким атомным числом с помощью источников рентгеновского излучения низкого напряжения в кВ, а также для исследования материалов с более высоким атомным числом с помощью источников рентгеновского или гамма-излучения с высоким напряжением в кВ. Продемонстрирован широкий диапазон экспозиции в областях с высокой контрастностью объекта. IX80 обычно используется вместе с прямым экспонированием или свинцовыми экранами
IX100 Сварные швы: металлы со средним или высоким атомным числом Отливки: металлы со средним или высоким атомным числом Производство и обслуживание самолетов Проверка артиллерии Пленка с очень мелким зерном и высокой контрастностью ASTM класса II подходит для исследования легких металлов с помощью слабоактивных источников излучения и для исследования толстых, плотных образцов с помощью источников рентгеновского или гамма-излучения с высоким напряжением в кВ. Продемонстрирован широкий диапазон экспозиции в областях с высокой контрастностью объекта. Хотя пленку IX100 обычно используют вместе с прямым экспонированием или свинцовыми экранами, она пригодна для работы с флуоресцентными или флуорометаллическими экранами.
IX150 Тяжелые, многослойные стальные детали Бетон со стальной арматурой Экспонирование с изотопами с низким значением в кюри и слабым рентгеновским излучением Высокочувствительная пленка с мелким зерном и высокой контрастностью ASTM класса III подходит для проверки самых разных образцов с помощью источников рентгеновского и гамма-излучения с низким и высоким напряжением в кВ. Она особенно полезна в том случае, если высокоактивный источник гамма-излучения недоступен, или при проверке очень толстых образцов. Кроме того, она применяется при использовании преломления рентгеновского излучения. IX150 используется вместе с прямым экспонированием или свинцовыми экранами
IX29 Отливки и прочие объекты разной толщины Пленка с исключительно мелким зерном и средне-высокой контрастностью ASTM класса W-A подходит для проверки объектов самой разной толщины (например, прецизионных отливок) с помощью источников рентгеновского или гамма-излучения. IX29 можно использовать вместе с прямой экспозицией или свинцовыми экранами
IX59 Отливки и прочие объекты разной толщины Пленка с исключительно мелким зерном и средней контрастностью ASTM класса W-B подходит для проверки металлических и стальных литых деталей разной толщины с низким атомным числом. IX59 можно использовать вместе с прямым экспонированием или свинцовыми экранами